1. Home /
  2. Publicaciones de patentes /
  3. MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA
MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA

Patente nacional por "MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA"

Este registro ha sido solicitado por

Persona física

a través del representante

PONTI & PARTNERS, S.L.P.

Contacto
 
 
 




  • Estado: Vigente
  • País:
  • España 
  • Fecha solicitud:
  • 15/02/2019 
  • Número solicitud:
  • P201930116 

  • Número publicación:
  • ES2779500 

  • Fecha de concesión:
  • 29/07/2021 

  • Inventores:
  • Persona física 

  • Datos del titular:
  • Persona física 
  • Datos del representante:
  • PONTI & PARTNERS, S.L.P.
     
  • Clasificación Internacional de Patentes:
  • G01J 9/00,G02B 21/36 
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:
  • G01J 9/00,G02B 21/36 
  • Fecha de vencimiento:
  •  
Quiero registrar una patente
registro
Los productos y servicios protegidos por este registro son:
G01J 9/00 - G02B 21/36

Publicaciones:
ES2779500 (17/08/2020) - A1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnica
ES2779500 (05/08/2021) - B2 Patente de invención con examen
Eventos:
En fecha 15/02/2019 se realizó Registro Instancia de Solicitud
En fecha 15/02/2019 se realizó Admisión a Trámite
En fecha 15/02/2019 se realizó 1001P_Comunicación Admisión a Trámite
En fecha 18/02/2019 se realizó Superado examen de oficio
En fecha 13/12/2019 se realizó Realizado IET
En fecha 16/12/2019 se realizó 1109P_Comunicación Traslado del IET
En fecha 11/02/2020 se realizó Inscripcion de Cesion F202030115
En fecha 11/02/2020 se realizó Alta mandatario por inscripción de transmisión F202030115
En fecha 17/08/2020 se realizó Publicación Solicitud
En fecha 17/08/2020 se realizó Publicación Folleto Solicitud con IET (A1)
En fecha 16/11/2020 se realizó 5215P_Observaciones del solicitante al IET, Opinión Escrita y/o alegaciones a observaciones de terceros
En fecha 16/11/2020 se realizó PETEX_Petición de examen sustantivo
En fecha 03/12/2020 se realizó Validación petición y/o pago de examen sustantivo conforme
En fecha 07/05/2021 se realizó 3411X_Alta Mandatarios
En fecha 10/05/2021 se realizó Alta mandatario
En fecha 20/07/2021 se realizó Finalización de Examen Sustantivo
En fecha 20/07/2021 se realizó 6121P_Comunicación finalización de examen sustantivo
En fecha 26/07/2021 se realizó Publicación finalización de examen sustantivo
En fecha 29/07/2021 se realizó Concesión con examen sustantivo
En fecha 29/07/2021 se realizó Entrega título
En fecha 29/07/2021 se realizó 6125P_Notificación de concesión con examen sustantivo
En fecha 05/08/2021 se realizó Publicación concesión Patente
En fecha 05/08/2021 se realizó Publicación Folleto Concesión
En fecha 07/02/2022 se realizó Plazo expirado presentación de oposiciones contra la concesión de la Patente
Pagos:
15/02/2019 - Pago Tasas IET
02/03/2022 - Bono en Pago 04 Anualidad (B1)
04/03/2022 - Bono en Pago 03 Anualidad (B2)
04/03/2022 - Pago 03 Anualidad
04/03/2022 - Pago 04 Anualidad
04/04/2023 - Pago 05 Anualidad
01/03/2024 - Pago 06 Anualidad

Fuente de la información

Parte de la información aquí publicada es pública puesto que ha sido obtenida de la Oficina de Propiedad Industrial de los diferentes países el 23/04/2024 y por lo tanto puede ser que la información no esté actualizada.

Parte de la información aquí mostrada ha sido calculada por nuestro sistema informático y puede no ser veraz.

Privacidad

Si considera que al información aquí publicada afecta a su privacidad y desea que eliminemos la información aquí publicada envíe un email a info@patentes-y-marcas.com o rellene el formulario que encontrará aquí.

Información sobre el registro de patente nacional por MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116

El registro de patente nacional por MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116 fue solicitada el 15/02/2019. Se trata de un registro en España por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116 fue solicitada por UNIVERSITAT DE VALÈNCIA mediante los servicios del agente PONTI & PARTNERS, S.L.P.. El registro [modality] por MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116 está clasificado como G01J 9/00,G02B 21/36 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes G01J 9/00,G02B 21/36.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116 está clasificado con la clasificación G01J 9/00,G02B 21/36 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación G01J 9/00,G02B 21/36 clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas a través del representante PONTI & PARTNERS, S.L.P.

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas a través del agente PONTI & PARTNERS, S.L.P. entre las que se encuentra el registro patente nacional por MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116. Si se desean conocer más invenciones solicitadas a través del agente PONTI & PARTNERS, S.L.P. clicar aquí.

Patentes en España

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en España entre las que se encuentra el registro patente nacional por MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en España. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en España.

Patentes registradas en la clase G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G (FISICA) entre las que se encuentra la patente MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01 (METROLOGIA; ENSAYOS) entre las que se encuentra la patente MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01J

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01J (MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTER) entre las que se encuentra la patente MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G02

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G02 (OPTICA) entre las que se encuentra la patente MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G02B

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G02B (ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS) entre las que se encuentra la patente MICROSCOPIO PARA MEDIDAS CUANTITATIVAS DEL FRENTE DE ONDA, MÓDULO Y KIT PARA MICROSCOPIO, MÉTODO Y PROGRAMA DE ORDENADOR PARA LA RECONSTRUCCIÓN COMPUTACIONAL DEL FRENTE DE ONDA con el número P201930116. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

¿Tienes alguna duda?
Escribe tu consulta y te responderemos rápida y gratuitamente.

Profesionales Recomendados

Facts