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PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN.

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN.

Patente nacional por "PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN."

Este registro ha sido solicitado por

Persona física

Contacto

Estado: Solicitud publicada

País:

PCT Patente

Fecha solicitud:

30/06/2023

Número solicitud:

PCT/ES2023/070421

Número publicación:

WO2024/003437

Fecha de concesión:

Inventores:

Persona física

Datos del titular:

Persona física

Datos del representante:

Clasificación Internacional de Patentes:

G01N 21/55,G01N 21/47,G01N 21/57

Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:

G01N 21/55,G01N 21/47,G01N 21/57

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Los productos y servicios protegidos por este registro son:
G01N 21/55 - G01N 21/47 - G01N 21/57

Publicaciones:
WO2024/003437 (04/01/2024) - A1 Solicitud internacional PCT con informe de búsqueda internacional en la OMPI
Eventos:
En fecha 07/07/2023 se realizó Examen art 11 Positivo
En fecha 07/07/2023 se realizó Asignación Fecha Presentacion Internacional
En fecha 07/07/2023 se realizó Solicitud PCT Easy Disquete Correcto
En fecha 13/07/2023 se realizó Liquidación correcta
En fecha 13/07/2023 se realizó No Contiene Defectos de los Prescritos en el art 14
En fecha 13/07/2023 se realizó Comunicación a OI Resto de Documentación
En fecha 13/07/2023 se realizó Comunicación a ISA Resto de Documentación
En fecha 19/09/2023 se realizó Comunicación a OI Fecha Recepción Documento Prioridad PCTRO135
En fecha 28/09/2023 se realizó Realización IBI Viable
En fecha 04/10/2023 se realizó Transmisión del IBI
En fecha 04/01/2024 se realizó Publicación OMPI Solicitud Internacional PCT con Informe de Búsqueda Internacional (A1)
En fecha 05/01/2024 se realizó Publicación Solicitud Internacional PCT

Fuente de la información

Parte de la información aquí publicada es pública puesto que ha sido obtenida de la Oficina de Propiedad Industrial de los diferentes países el 05/05/2024 y por lo tanto puede ser que la información no esté actualizada.

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Información sobre el registro de patente nacional por PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421

El registro de patente nacional por PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421 fue solicitada el 30/06/2023. Se trata de un registro en PCT Patente por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421 fue solicitada por UNIVERSIDAD DE CÁDIZ. El registro [modality] por PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421 está clasificado como G01N 21/55,G01N 21/47,G01N 21/57 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes G01N 21/55,G01N 21/47,G01N 21/57.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421 está clasificado con la clasificación G01N 21/55,G01N 21/47,G01N 21/57 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación G01N 21/55,G01N 21/47,G01N 21/57 clicar aquí.

Patentes en PCT Patente

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en PCT Patente entre las que se encuentra el registro patente nacional por PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN.. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en PCT Patente. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en PCT Patente.

Patentes registradas en la clase G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G (FISICA) entre las que se encuentra la patente PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01 (METROLOGIA; ENSAYOS) entre las que se encuentra la patente PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01N

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01N (INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS) entre las que se encuentra la patente PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA CALIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES REFLECTANTES BASADO EN ANÁLISIS DE IMAGEN. con el número PCT/ES2023/070421. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

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