Los productos y servicios protegidos por este registro son:
H01L 21/66
Publicaciones:
EP4044216 (17/08/2022) - A1 Solicitud de patente europea con informe de búsqueda en la OEP Eventos:
En fecha 17/08/2022 se realizó Publicación OEP Solicitud de Patente Europea con Informe de Búsqueda (A1).
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Información sobre el registro de patente europea por METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381
El registro de patente europea por METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381 fue solicitada el 16/02/2021. Se trata de un registro en Patente Europea por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381 fue solicitada por SILTRONIC AG. El registro [modality] por METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381 está clasificado como H01L 21/66 según la clasificación internacional de patentes.
Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes H01L 21/66.
Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente europea por METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381 está clasificado con la clasificación H01L 21/66 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación H01L 21/66 clicar aquí.
Es posible conocer todas las invenciones publicadas en Patente Europea entre las que se encuentra el registro patente europea por METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en Patente Europea. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en Patente Europea.
Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H (ELECTRICIDAD) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.
Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H01 (ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.
Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H01L (DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR TESTING THE STRESS ROBUSTNESS OF A SEMICONDUCTOR SUBSTRATE con el número E21157381. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.
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