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METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION

Patente nacional por "METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION"

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Persona física

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  • Estado: Solicitud publicada
  • País:
  • PCT Patente 
  • Fecha solicitud:
  • 04/01/2022 
  • Número solicitud:
  • PCT/EP2022/000004 

  • Número publicación:
  • WO2022/148715 

  • Fecha de concesión:
  •  

  • Inventores:
  • Persona física 

  • Datos del titular:
  • Persona física 
  • Datos del representante:

  •  
  • Clasificación Internacional de Patentes:
  • G02B 21/00,G01N 21/64 
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:
  • G02B 21/00,G01N 21/64 
  • Fecha de vencimiento:
  •  
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Los productos y servicios protegidos por este registro son:
G02B 21/00 - G01N 21/64

Publicaciones:
WO2022/148715 (14/07/2022) - A1 Solicitud internacional PCT con informe de búsqueda internacional en la OMPI
Eventos:
En fecha 14/07/2022 se realizó Publicación OMPI Solicitud Internacional PCT con Informe de Búsqueda Internacional (A1)
En fecha 15/07/2022 se realizó Publicación Solicitud Internacional PCT

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Información sobre el registro de patente nacional por METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004

El registro de patente nacional por METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004 fue solicitada el 04/01/2022. Se trata de un registro en PCT Patente por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004 fue solicitada por CREMER, CHRISTOPH. El registro [modality] por METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004 está clasificado como G02B 21/00,G01N 21/64 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes G02B 21/00,G01N 21/64.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004 está clasificado con la clasificación G02B 21/00,G01N 21/64 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación G02B 21/00,G01N 21/64 clicar aquí.

Patentes en PCT Patente

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en PCT Patente entre las que se encuentra el registro patente nacional por METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en PCT Patente. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en PCT Patente.

Patentes registradas en la clase G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G (FISICA) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G02

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G02 (OPTICA) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G02B

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G02B (ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01 (METROLOGIA; ENSAYOS) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01N

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01N (INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS) entre las que se encuentra la patente METHOD FOR RING-ARRAY ILLUMINATION MICROSCOPY WITH LARGE WORKING DISTANCES AND HIGH RESOLUTION con el número PCT/EP2022/000004. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

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