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Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería

Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería

Patente nacional por "Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería"

Este registro ha sido solicitado por

THENEXTPANGEA, S.L

a través del representante

CARVAJAL Y URQUIJO, ISABEL ET AL.

Contacto

Estado: En tramitación sin publicar

País:

PCT Patente

Fecha solicitud:

18/04/2023

Número solicitud:

PCT/ES2023/070239

Número publicación:

WO2023/227807

Fecha de concesión:

Inventores:

Persona física

Datos del titular:

Thenextpangea, S.L

Datos del representante:

CARVAJAL Y URQUIJO, Isabel et al.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01L 1/18,G01L 1/22,G01M 5/00,B65G 1/02,G01L 1/20

Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:

G01L 1/18,G01L 1/22,G01M 5/00,B65G 1/02,G01L 1/20

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Los productos y servicios protegidos por este registro son:
G01L 1/18 - G01L 1/22 - G01M 5/00 - B65G 1/02 - G01L 1/20

Publicaciones:
WO2023/227807 (30/11/2023) - A1 Solicitud internacional PCT con informe de búsqueda internacional en la OMPI
Eventos:
En fecha 21/04/2023 se realizó Examen art 11 Positivo
En fecha 21/04/2023 se realizó Asignación Fecha Presentacion Internacional
En fecha 21/04/2023 se realizó Solicitud PCT Easy Disquete Correcto
En fecha 21/04/2023 se realizó Existe Traduccion a Idiomas Oficiales con Envío de Ejemplar a OI
En fecha 21/04/2023 se realizó No Contiene Defectos de los Prescritos en el art 14
En fecha 21/04/2023 se realizó Comunicación a OI Resto de Documentación
En fecha 21/04/2023 se realizó Comunicación a ISA Resto de Documentación
En fecha 19/05/2023 se realizó Generación Documentación PCTRO132
En fecha 30/11/2023 se realizó Publicación OMPI Solicitud Internacional PCT con Informe de Búsqueda Internacional (A1)
En fecha 01/12/2023 se realizó Publicación Solicitud Internacional PCT

Fuente de la información

Parte de la información aquí publicada es pública puesto que ha sido obtenida de la Oficina de Propiedad Industrial de los diferentes países el 25/04/2024 y por lo tanto puede ser que la información no esté actualizada.

Parte de la información aquí mostrada ha sido calculada por nuestro sistema informático y puede no ser veraz.

Privacidad

Si considera que al información aquí publicada afecta a su privacidad y desea que eliminemos la información aquí publicada envíe un email a info@patentes-y-marcas.com o rellene el formulario que encontrará aquí.

Información sobre el registro de patente nacional por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239

El registro de patente nacional por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239 fue solicitada el 18/04/2023. Se trata de un registro en PCT Patente por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239 fue solicitada por THENEXTPANGEA, S.L mediante los servicios del agente CARVAJAL Y URQUIJO, Isabel et al.. El registro [modality] por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239 está clasificado como G01L 1/18,G01L 1/22,G01M 5/00,B65G 1/02,G01L 1/20 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas por Thenextpangea, S.L

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas por Thenextpangea, S.L entre las que se encuentra el registro de patente nacional por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Si se desean conocer más invenciones solicitadas por Thenextpangea, S.L clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes G01L 1/18,G01L 1/22,G01M 5/00,B65G 1/02,G01L 1/20.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239 está clasificado con la clasificación G01L 1/18,G01L 1/22,G01M 5/00,B65G 1/02,G01L 1/20 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación G01L 1/18,G01L 1/22,G01M 5/00,B65G 1/02,G01L 1/20 clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas a través del representante CARVAJAL Y URQUIJO, ISABEL ET AL.

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas a través del agente CARVAJAL Y URQUIJO, ISABEL ET AL. entre las que se encuentra el registro patente nacional por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Si se desean conocer más invenciones solicitadas a través del agente CARVAJAL Y URQUIJO, ISABEL ET AL. clicar aquí.

Patentes en PCT Patente

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en PCT Patente entre las que se encuentra el registro patente nacional por Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en PCT Patente. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en PCT Patente.

Patentes registradas en la clase G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G (FISICA) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01 (METROLOGIA; ENSAYOS) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01L

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01L (MEDIDA DE FUERZAS, TENSIONES, PARES, TRABAJO, POTENCIA MECANICA, RENDIMIENTO MECANICO O DE LA PRESIO) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01M

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01M (ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARAT) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase B

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase B (TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTE ) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase B65

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase B65 (TRANSPORTE; EMBALAJE; ALMACENADO; MANIPULACION DE MATERIALES DELGADOS O FILIFORMES) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase B65G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase B65G (DISPOSITIVOS DE TRANSPORTE O ALMACENAJE, p. ej. TRANSPORTADORES PARA CARGAR O BASCULAR, SISTEMAS TRA) entre las que se encuentra la patente Dispositivo y sistema para monitorizar una deformación de una estantería con el número PCT/ES2023/070239. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

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