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MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION

Patente nacional por "MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION"

Este registro ha sido solicitado por

CARL ZEISS MULTISEM GMBH

a través del representante

TESCH-BIEDERMANN, CARMEN

Contacto
 
 
 




  • Estado: Solicitud publicada
  • País:
  • PCT Patente 
  • Fecha solicitud:
  • 21/06/2023 
  • Número solicitud:
  • PCT/EP2023/025289 

  • Número publicación:
  • WO2024/008329 

  • Fecha de concesión:
  •  

  • Inventores:
  • Persona física 

  • Datos del titular:
  • CARL ZEISS MULTISEM GMBH
  • Datos del representante:
  • TESCH-BIEDERMANN, Carmen
     
  • Clasificación Internacional de Patentes:
  • H01J 37/153,H01J 3/16 
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:
  • H01J 37/153,H01J 3/16 
  • Fecha de vencimiento:
  •  
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registro
Los productos y servicios protegidos por este registro son:
H01J 37/153 - H01J 3/16

Publicaciones:
WO2024/008329 (11/01/2024) - A1 Solicitud internacional PCT con informe de búsqueda internacional en la OMPI
Eventos:
En fecha 11/01/2024 se realizó Publicación OMPI Solicitud Internacional PCT con Informe de Búsqueda Internacional (A1)
En fecha 12/01/2024 se realizó Publicación Solicitud Internacional PCT

Fuente de la información

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Información sobre el registro de patente nacional por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289

El registro de patente nacional por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289 fue solicitada el 21/06/2023. Se trata de un registro en PCT Patente por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289 fue solicitada por CARL ZEISS MULTISEM GMBH mediante los servicios del agente TESCH-BIEDERMANN, Carmen. El registro [modality] por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289 está clasificado como H01J 37/153,H01J 3/16 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas por CARL ZEISS MULTISEM GMBH

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas por CARL ZEISS MULTISEM GMBH entre las que se encuentra el registro de patente nacional por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289. Si se desean conocer más invenciones solicitadas por CARL ZEISS MULTISEM GMBH clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes H01J 37/153,H01J 3/16.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289 está clasificado con la clasificación H01J 37/153,H01J 3/16 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación H01J 37/153,H01J 3/16 clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas a través del representante TESCH-BIEDERMANN, CARMEN

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas a través del agente TESCH-BIEDERMANN, CARMEN entre las que se encuentra el registro patente nacional por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289. Si se desean conocer más invenciones solicitadas a través del agente TESCH-BIEDERMANN, CARMEN clicar aquí.

Patentes en PCT Patente

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en PCT Patente entre las que se encuentra el registro patente nacional por MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en PCT Patente. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en PCT Patente.

Patentes registradas en la clase H

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H (ELECTRICIDAD) entre las que se encuentra la patente MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase H01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H01 (ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS) entre las que se encuentra la patente MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase H01J

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H01J (TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA) entre las que se encuentra la patente MULTI-BEAM CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DESIGN WITH MIRROR FOR FIELD CURVATURE CORRECTION con el número PCT/EP2023/025289. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

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