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METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE

METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE

Patente nacional por "METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE"

Este registro ha sido solicitado por

Persona física

a través del representante

IPAZ

Contacto

Estado: Solicitud publicada

País:

PCT Patente

Fecha solicitud:

31/03/2023

Número solicitud:

PCT/EP2023/058491

Número publicación:

WO2023/187171

Fecha de concesión:

Inventores:

Persona física

Datos del titular:

Persona física

Datos del representante:

IPAZ

Clasificación Internacional de Patentes:

G01M 11/02

Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:

G01M 11/02

Fecha de vencimiento:

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Los productos y servicios protegidos por este registro son:
G01M 11/02

Publicaciones:
WO2023/187171 (05/10/2023) - A1 Solicitud internacional PCT con informe de búsqueda internacional en la OMPI
Eventos:
En fecha 05/10/2023 se realizó Publicación OMPI Solicitud Internacional PCT con Informe de Búsqueda Internacional (A1)
En fecha 06/10/2023 se realizó Publicación Solicitud Internacional PCT

Fuente de la información

Parte de la información aquí publicada es pública puesto que ha sido obtenida de la Oficina de Propiedad Industrial de los diferentes países el 16/06/2024 y por lo tanto puede ser que la información no esté actualizada.

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Privacidad

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Información sobre el registro de patente nacional por METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491

El registro de patente nacional por METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491 fue solicitada el 31/03/2023. Se trata de un registro en PCT Patente por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491 fue solicitada por FOGALE NANOTECH mediante los servicios del agente IPAZ. El registro [modality] por METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491 está clasificado como G01M 11/02 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes G01M 11/02.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491 está clasificado con la clasificación G01M 11/02 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación G01M 11/02 clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas a través del representante IPAZ

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas a través del agente IPAZ entre las que se encuentra el registro patente nacional por METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491. Si se desean conocer más invenciones solicitadas a través del agente IPAZ clicar aquí.

Patentes en PCT Patente

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en PCT Patente entre las que se encuentra el registro patente nacional por METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en PCT Patente. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en PCT Patente.

Patentes registradas en la clase G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G (FISICA) entre las que se encuentra la patente METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01 (METROLOGIA; ENSAYOS) entre las que se encuentra la patente METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01M

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01M (ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARAT) entre las que se encuentra la patente METHOD AND SYSTEM FOR CHARACTERIZING AN OPTICAL LENS FOR CORRECTING OPTICAL ABERRATIONS INTRODUCED BY SAID OPTICAL LENS IN AN IMAGE con el número PCT/EP2023/058491. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

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