1. Home /
  2. Publicaciones de patentes /
  3. INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS
INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS

Patente nacional por "INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS"

Este registro ha sido solicitado por

Persona física

a través del representante

ASML NETHERLANDS B.V.

Contacto
 
 
 




  • Estado: Solicitud publicada
  • País:
  • PCT Patente 
  • Fecha solicitud:
  • 07/06/2023 
  • Número solicitud:

  • PCT/EP2023/065185 
  • Número publicación:

  • WO2023/242012 
  • Fecha de concesión:

  •  
  • Inventores:

  • Persona física 
  • Datos del titular:
  • Persona física 
  • Datos del representante:
  • ASML NETHERLANDS B.V.
     
  • Clasificación Internacional de Patentes:
  • G03F 7/00,G01B 9/02,G01N 21/95,G03F 9/00,H01L 21/66 
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicación:
  • G03F 7/00,G01B 9/02,G01N 21/95,G03F 9/00,H01L 21/66 
  • Fecha de vencimiento:
  •  
Quiero registrar una patente
registro
¿Tienes una idea y quieres saber si ya existe?
TE PODEMOS AYUDAR
¿Quieres solicitar un registro similar a éste?
DESCUBRE CÓMO
¿Necesitas ayuda con el registro de modelo de utilidad?
CONSÚLTANOS
¿Quieres vender o licenciar tu patente?
CONSÚLTANOS
¿Tienes una idea y quieres saber si ya existe?
TE PODEMOS AYUDAR
¿Eres el propietario de este registro?
ACCEDE A SERVICIOS GRATUITOS
Asesores en Propiedad Industrial
Abogados especialistas en Propiedad Industrial Intelectual
Asesores Fiscales especializados en Propiedad Industrial
Ingenierías
Los productos y servicios protegidos por este registro son:
G03F 7/00 - G01B 9/02 - G01N 21/95 - G03F 9/00 - H01L 21/66

Publicaciones:
WO2023/242012 (21/12/2023) - A1 Solicitud internacional PCT con informe de búsqueda internacional en la OMPI
Eventos:
En fecha 21/12/2023 se realizó Publicación OMPI Solicitud Internacional PCT con Informe de Búsqueda Internacional (A1)
En fecha 22/12/2023 se realizó Publicación Solicitud Internacional PCT

Fuente de la información

Parte de la información aquí publicada es pública puesto que ha sido obtenida de la Oficina de Propiedad Industrial de los diferentes países el 25/05/2024 y por lo tanto puede ser que la información no esté actualizada.

Parte de la información aquí mostrada ha sido calculada por nuestro sistema informático y puede no ser veraz.

Privacidad

Si considera que al información aquí publicada afecta a su privacidad y desea que eliminemos la información aquí publicada envíe un email a info@patentes-y-marcas.com o rellene el formulario que encontrará aquí.

Información sobre el registro de patente nacional por INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185

El registro de patente nacional por INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185 fue solicitada el 07/06/2023. Se trata de un registro en PCT Patente por lo que este registro no ofrece protección en el resto de países. El registro INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185 fue solicitada por ASML NETHERLANDS B.V. mediante los servicios del agente ASML NETHERLANDS B.V.. El registro [modality] por INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185 está clasificado como G03F 7/00,G01B 9/02,G01N 21/95,G03F 9/00,H01L 21/66 según la clasificación internacional de patentes.

Otras invenciones solicitadas en la clasificación internacional de patentes G03F 7/00,G01B 9/02,G01N 21/95,G03F 9/00,H01L 21/66.

Es posible conocer invenciones similares al campo de la técnica se refiere. El registro de patente nacional por INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185 está clasificado con la clasificación G03F 7/00,G01B 9/02,G01N 21/95,G03F 9/00,H01L 21/66 por lo que si se desea conocer más registros con la clasificación G03F 7/00,G01B 9/02,G01N 21/95,G03F 9/00,H01L 21/66 clicar aquí.

Otras invenciones solicitadas a través del representante ASML NETHERLANDS B.V.

Es posible conocer todas las invenciones solicitadas a través del agente ASML NETHERLANDS B.V. entre las que se encuentra el registro patente nacional por INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Si se desean conocer más invenciones solicitadas a través del agente ASML NETHERLANDS B.V. clicar aquí.

Patentes en PCT Patente

Es posible conocer todas las invenciones publicadas en PCT Patente entre las que se encuentra el registro patente nacional por INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS. Nuestro portal www.patentes-y-marcas.com ofrece acceso a las publicaciones de patentes en PCT Patente. Conocer las patentes registradas en un país es importante para saber las posibilidades de fabricar, vender o explotar una invención en PCT Patente.

Patentes registradas en la clase G

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G (FISICA) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G03

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G03 (FOTOGRAFIA; CINEMATOGRAFIA; TECNICAS ANALOGAS QUE UTILIZAN ONDAS DISTINTAS DE LAS ONDAS OPTICAS; ELE) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G03F

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G03F (PRODUCCION POR VIA FOTOMECANICA DE SUPERFICIES TEXTURADAS, p. ej. PARA LA IMPRESION, PARA EL TRATAMI) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01 (METROLOGIA; ENSAYOS) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01B

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01B (MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; ) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase G01N

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase G01N (INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase H

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H (ELECTRICIDAD) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase H01

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H01 (ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

Patentes registradas en la clase H01L

Es posible conocer todas las patentes registradas en la clase H01L (DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR) entre las que se encuentra la patente INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR SCALABLE AND ACCURATE INSPECTION SYSTEMS con el número PCT/EP2023/065185. Conocer las patentes registradas en una clase es importante para saber las posibilidades de registrar una patente en esa misma clase.

¿Tienes alguna duda?
Escribe tu consulta y te responderemos rápida y gratuitamente.
Otras patentes similares
METHOD OF VERIFYING A PROGRAM CODE OF A SYNTHESIS COMPUTER PROGRAM

METHOD OF VERIFYING A PROGRAM CODE OF A SYNTHESIS COMPUTER PROGRAM
country PCT/EP2023/065183
Fecha solicitud 07/06/2023

REAR BODY STRUCTURE OF A VEHICLE COMPRISING A GATE

REAR BODY STRUCTURE OF A VEHICLE COMPRISING A GATE
country PCT/EP2023/065184
Fecha solicitud 07/06/2023

SPACER FOR AN ADD-ON DEVICE

SPACER FOR AN ADD-ON DEVICE
country PCT/EP2023/065186
Fecha solicitud 07/06/2023

DISPENSER

DISPENSER
country PCT/EP2023/065187
Fecha solicitud 07/06/2023

Profesionales Recomendados

R. Volart Pons y Cia, s.l.
Barcelona
933182440
country España
logo-profesional
Visitas : 16899
SNAbogados
Barcelona
+34 93 362 16 97
country España
logo-profesional
Visitas : 15277
SRB Assessors
Barcelona
932 593 600
country España
logo-profesional
Visitas : 9959

Servicios relacionados

ico-whatsapp
WHATSAPP

CONTACTO

CONTACTO

Facts