Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos

Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos
  • Pays: Espagne
  • Date de la demande: 31/03/2017
  • Numero de demande:

    P201730555

  • Numéro de publication:

    ES2626487

  • Date de l'enregistrement: 27/06/2018
  • Statut: Concesión
  • Inventeurs:
    Silvia Satorres Martínez
    Javier Gámez García
    Juan Gómez Ortega
    Alejandro Sánchez García
    Sergio Illana Rico
    Óscar Cáceres Moreno
  • Informations du titulaire:
    UNIVERSIDAD DE JAÉN
  • Informations du représentant:

  • Classification internationale des brevets de la publication:
    G01N 21/88,G01M 17/02,G01N 21/958,G01B 11/25,G01B 11/30,G02F 1/13,
  • Classification internationale des brevets de la publication:
  • Date d'expiration:

Brevet national pour "Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos"

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UNIVERSIDAD DE JAÉN

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Revendications:
+ ES-2626487_B1 ES 2 626 487 A1 1. Perfeccionamiento en la solicitud de patente número P200930628 titulada "sistema de iluminación activo binario" donde en el sistema de iluminación comprende una fuente de iluminación (1) , medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes (1, 3) y un sistema de visión por computador enfrentado dichos medios (6) de manera que entre la fuente y los medios para generar el patrón queda definida una zona de inspección destinada a albergar una lente a inspeccionar, caracterizado porque además está provisto de al menos dos carcasas (2a, 2b) , una a cada lado de la zona de inspección, comprendiendo cada carcasa dos placas de circuito impreso (PCB) , estando provista cada placa de una pluralidad de LEDs, y donde cada placa posee un actuador lineal (4) y un mecanismo de giro (5) de manera que la distancia y el ángulo entre los LEDs y la zona de inspección son variables.

+ ES-2626487_A1 1. Perfeccionamiento en la solicitud de patente número P200930628 titulada "sistema de iluminación activo binario" donde en el sistema de iluminación comprende una fuente de iluminación (1), medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes (1,3) y un sistema de visión por computador enfrentado dichos medios (6) de manera que entre la fuente y los medios para generar el patrón queda definida una zona de inspección destinada a albergar una lente a inspeccionar, caracterizado porque además está provisto de al menos dos carcasas (2a, 2b), una a cada lado de la zona de inspección, comprendiendo cada carcasa dos placas de circuito impreso (PCB), estando provista cada placa de una pluralidad de LEDs, y donde cada placa posee un actuador lineal (4) y un mecanismo de giro (5) de manera que la distancia y el ángulo entre los LEDs y la zona de inspección son variables.

Descriptions:
+ ES-2626487_B1 Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos D E S C R I P C I Ó N Perfeccionamientos en la solicitud de patente número P200930628 titulada "sistema de iluminación activo binario" OBJETO DE LA INVENCIÓN El objeto de la presente invención son determinados perfeccionamientos añadidos a la solicitud de patente número P200930628 relativa a un dispositivo de iluminación binario. Más concretamente, el dispositivo descrito en la solicitud de patente número P200930628 se refiere a una fuente de iluminación y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes para iluminar piezas transparentes a inspeccionar. El perfeccionamiento principal propuesto en la presente solicitud de certificado de adición consiste en que se añade al dispositivo un sistema de iluminación direccional basado en un sistema de LEDs para iluminar lentes de proyectores de vehículos. ANTECEDENTES DE LA INVENCIÓN Hoy en día el control de calidad de las lentes y otros tipos de piezas transparentes, tales como guías de luz, incluidas en los pilotos y faros de los vehículos (conocidos también como proyectores) , se realiza de manera visual. Toda la información necesaria para llevar a cabo la inspección y decidir si una imperfección debe ser considerada como defecto se encuentra descrita en el estándar de inspección. Para aplicaciones que hagan uso de medios de programa y una inspección automática, interesa que el sistema de iluminación sea difuso para evitar en la medida de lo posible sombras y reflejos que puedan dificultar el proceso de extracción del defecto en la imagen captada por un sensor de visión. También son interesantes los sistemas de luz estructurada. La iluminación estructurada es de tipo binario y está compuesta por una sucesión de franjas sin intensidad luminosa y con máxima intensidad. Con estas condiciones, un defecto aparece en la imagen capturada como un conjunto de píxeles blancos sobre un fondo oscuro. Para detectar defectos transparentes sobre superficies que también lo son, utilizando técnicas de la iluminación estructurada, es fundamental que la cámara o sensor de visión esté saturada, y para que esto ocurra se necesitan unos tiempos de exposición elevados. Esto no permitiría su aplicabilidad a nivel industrial, ya que el tiempo de adquisición de imágenes, y por tanto el tiempo de ciclo, impediría que el proceso de inspección se realizase dentro de los tiempos definidos para obtener las cadencias establecidas. El sistema descrito en la patente ES 2363284 A1 soluciona este problema al proporcionar una fuente que evita la necesidad de dichos tiempos de exposición prolongados. Este sistema, sin embargo, no es capaz de contrastar ciertas tipologías de defectos o defectos que aparezcan en determinadas localizaciones. Además y debido a las características constructivas de las lentes, los defectos potenciales se magnifican o son menos perceptibles, en función de la ubicación de la imperfección y la posición del observador. Puesto que el proceso de fabricación de estas piezas se realiza mediante inyección en varias fases, gases y partículas pueden quedar atrapadas en su interior. Un defecto muy común, y que siempre se origina cada vez que se para la instalación, debido a un cambio de molde, puesta a punto o fallo, es el atrapamiento de gases. Este tipo de defecto aparece durante varios ciclos de inyección, siendo inicialmente muy visible y conforme se van inyectando piezas se va haciendo menos perceptible hasta desaparecer totalmente. Utilizando el sistema de iluminación activo binario es posible identificar este defecto, pero sólo en las piezas producidas en los primeros ciclos de inyección. OBJETO DE LA INVENCIÓN La invención tiene por objeto paliar los problemas técnicos citados en el apartado anterior. Gracias al perfeccionamiento del sistema anterior es posible detectar defectos debidos al atrapamiento de gases a lo largo de todo en ciclo productivo. Para ello se incluye un dispositivo de iluminación direccional. Para la adquisición de imágenes será necesario posicionar un sensor con capacidad de obtener imágenes de la escena tridimensional enfrentado al primer dispositivo de iluminación binaria y cuyo eje central será también perpendicular a la dirección en la que se ilumina la pieza a inspeccionar mediante el nuevo sistema. Para posibilitar la detección de las imperfecciones surgidas del proceso de inyección se utilizan ambos sistemas binario y direccional. El primer dispositivo, el sistema de iluminación activo binario se compone esencialmente de: - Fuente de alimentación conmutada. - Panel de cristal líquido (LCD) , el cual también puede incorporar tecnología de transistor de película delgada (TFT). - Tarjeta/s electrónica/s para el procesamiento y acondicionamiento de las señales de control del panel líquido. - Interfaz de datos digital (por ejemplo: DVI, HDMI...) o bien analógica (p.e. VGA). - Fuente de iluminación de alta intensidad y homogénea. - Elementos disipadores y aislantes de temperatura. - Panel de protección transparente y mate. - Una o varias placas de circuito impreso (PCBs) que comprenden LEDs con una distribución y disposición específica. Los LEDs deben ubicarse de tal forma que se asegure que el sistema entrega una iluminación homogénea y que no quedan áreas sin iluminar. El segundo dispositivo está formado por: - Placas de circuito impreso PCBs con LEDs posicionados en líneas - Difusores, pantallas de protección y carcasa. - Drivers de potencia y control. - Sistemas de posicionamiento basados en actuadores lineales y mecanismos de giro para la disposición de las placas de circuito impreso PCBs. Las imágenes captadas por el sensor de adquisición, cuando el sistema de iluminación activo binario proyecta un patrón de franjas móviles, son preprocesadas con el objeto de conseguir lo que se ha definido como imagen de aspecto. Esta imagen se caracteriza por disponer de un fondo homogéneo en el cual los defectos aparecen contrastados. Con esta tipología de imagen, la extracción de defectos es posible realizarla con algoritmos de bajo coste computacional compatibles con los reducidos tiempos de ciclo demandados en el sector de la automoción. Otras ventajas adicionales de este sistema son su alta iluminancia, que permite reducir los tiempos de adquisición de imagen, y la flexibilidad de configuración a nivel de software. Esta última característica hace que sea posible configurar en tamaño y orientación el patrón de iluminación estructurada para detectar defectos de distintas tipologías, orientaciones o tamaños. También es posible realizar el movimiento del patrón reduciendo, de esta forma, la presencia de elementos mecánicos, y configurarlo con un fondo blanco o negro según necesidades. Cuando se proyecta un fondo blanco actuará como un sistema de retroiluminación convencional y al proyectar un patrón negro evitará contaminaciones lumínicas cuando el dispositivo basado en LEDs direccionales actúe. En las imágenes captadas utilizando el dispositivo direccional basado en LEDs también será necesaria la aplicación de un preprocesado. En este caso se configurará en el driver de control una secuencia de encendido para captar una sucesión de imágenes. De la secuencia de imágenes se obtendrá una única imagen que no contendrá reflejos originados por el encendido de los LEDs y sí que mantendrá las posibles imperfecciones que pudiesen ser consideradas como defectos. BREVE DESCRIPCIÓN DE LAS FIGURAS Con objeto de ayudar a una mejor comprensión de las características de la invención de acuerdo con un ejemplo preferente de realización práctica de la misma, se acompaña la siguiente descripción de un juego de dibujos en donde con carácter ilustrativo se ha representado lo siguiente: La figura 1 es un esquema del dispositivo de la invención. La figura 2 es una vista en planta de la invención. La figura 3 muestra en detalle las carcasas y los actuadores de las carcasas. DESCRIPCIÓN DETALLADA DE LA INVENCIÓN En referencia a la figura 1, la invención comprende un monitor LCD 1 con, opcionalmente, una superficie negra mate 3 colocada próxima a su superficie. A cada lado de la zona donde se colocará la lente se sitúan dos carcasas que comprende de dos placas de circuito impreso (PCBs) respectivamente. Las placas incluyen una pluralidad de LEDs. Una de las placas se encuentra más próxima a la zona de la lente o zona de inspección. En cada placa, los LEDs se encuentran alineados. Las líneas de las dos placas son paralelas pero están a distintas alturas respecto a la posición de la lente. Las carcasas 2a, 2b cuentan con, preferentemente, unas pantallas de protección. Sendos actuadores lineales 4 y mecanismos de giro 5 permiten variar tanto la distancia relativa como el ángulo relativo entre la lente y el conjunto PCBs- carcasa. La incorporación de estos grados de libertad en el movimiento de las carcasas y por ende las PCBs permite que la invención pueda ser de utilidad para la inspección de diversos modelos de lentes. Es deseable que un grupo de LEDs, en la PCB que se encuentra más cerca de la zona de inspección se posicionen lo más cerca posible del corte láser de la pieza y formen una línea a una altura superior que la línea de LEDs en la placa más alejada de la zona de inspección. Por altura se entiende la distancia al plano donde se apoyan la lente y los mecanismos de giro y actuadores. Como elemento de adquisición de imágenes 6 se puede utilizar una cámara CCD o CMOS con la óptica y electrónica necesarias para poder realizar el procesamiento de imagen digital. En el caso del sistema de iluminación activo binario, la utilización de una malla de LCD sobre iluminada ofrece mayor flexibilidad que los sistemas mecánicos, no teniendo limitaciones a la hora de configurar y mover el patrón de franjas o incluso eliminarlo y colocar un fondo blanco. Para asegurar la detección de cualquier defecto en el campo de visión del sensor, el patrón de franjas debe escanear la totalidad de esta superficie. Para los tipos de defectos no transparentes que podría ser interesante detectar también (puntos negros y otras manchas) , es interesante disponer de un sistema de retroiluminación sin franjas. Disponer de un patrón de franjas dinámico configurable en orientación y tamaño (sobre todo anchura). Tener la posibilidad de eliminar las franjas para, iluminando con luz blanca, detectar defectos opacos. Reducir enormemente los tiempos de sobreexposición al sobre- iluminar el objeto. La proporción existente entre la anchura de franjas de distinta luminancia permite detectar defectos de distinto tamaño. Esta proporción se ajustará para resaltar el defecto transparente de menor tamaño que estemos interesados en inspeccionar. El método empleado para conseguir la caracterización de defectos estéticos transparentes utilizando es el siguiente: En primer lugar, la iluminación binaria debe barrer el campo de visión de la cámara, por lo tanto se alternan la captura de imágenes con el movimiento de franjas. Todas las imágenes capturadas se componen de lo que se denomina imagen de aspecto. En esta imagen el fondo aparece en un nivel de gris intermedio y los defectos en un nivel de gris muy alto. Al estar tan contrastados, la segmentación (división de la imagen en regiones que tengan atributos o propiedades similares) no requiere de complejas técnicas de procesamiento y sólo se aplicará a las zonas de la imagen de aspecto que no tengan bordes, definidas como regiones de interés (ROIs). Una vez segmentados los defectos en la imagen debería procederse a la aceptación o rechazo del objeto transparente en función de las dimensiones del defecto y de la zona del cristal en la que éste haya sido detectado. Obtención de la imagen de aspecto Defínase la iluminación dinámica binaria como una forma de onda cuadrada periódica que debe ser desplazada N veces de forma que la anchura de la franja blanca Tb recorra la totalidad del periodo. Siendo A: Desfase entre franjas en dos imágenes consecutivas a: Ciclo de trabajo, el fondo homogéneo de la imagen de aspecto se obtendrá realizando el promedio (M) de las N formas de onda cuadradas desfasadas A. Af (x) , v-i ** (Ver fórmula) ** n=0 £ N a T A=------- sGN 1
+ ES-2626487_A1 Perfeccionamientos en la solicitud de patente número P200930628 titulada "sistema de iluminación activo binario" OBJETO DE LA INVENCIÓN El objeto de la presente invención son determinados perfeccionamientos añadidos a la solicitud de patente número P200930628 relativa a un dispositivo de iluminación binario. Más concretamente, el dispositivo descrito en la solicitud de patente número P200930628 se refiere a una fuente de iluminación y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes para iluminar piezas transparentes a inspeccionar. El perfeccionamiento principal propuesto en la presente solicitud de certificado de adición consiste en que se añade al dispositivo un sistema de iluminación direccional basado en un sistema de LEDs para iluminar lentes de proyectores de vehículos. ANTECEDENTES DE LA INVENCIÓN Hoy en día el control de calidad de las lentes y otros tipos de piezas transparentes, tales como guías de luz, incluidas en los pilotos y faros de los vehículos (conocidos también como proyectores), se realiza de manera visual. Toda la información necesaria para llevar a cabo la inspección y decidir si una imperfección debe ser considerada como defecto se encuentra descrita en el estándar de inspección. Para aplicaciones que hagan uso de medios de programa y una inspección automática, interesa que el sistema de iluminación sea difuso para evitar en la medida de lo posible sombras y reflejos que puedan dificultar el proceso de extracción del defecto en la imagen captada por un sensor de visión. También son interesantes los sistemas de luz estructurada. La iluminación estructurada es de tipo binario y está compuesta por una sucesión de franjas sin intensidad luminosa y con máxima intensidad. Con estas condiciones, un defecto aparece en la imagen capturada como un conjunto de píxeles blancos sobre un fondo oscuro. Para detectar defectos transparentes sobre superficies que también lo son, utilizando técnicas de la iluminación estructurada, es fundamental que la cámara o sensor de visión esté saturada, y para que esto ocurra se necesitan unos tiempos de exposición elevados. Esto no permitiría su aplicabilidad a nivel industrial, ya que el tiempo de adquisición de imágenes, y por tanto el tiempo de ciclo, impediría que el proceso de inspección se realizase dentro de los tiempos definidos para obtener las cadencias establecidas. El sistema descrito en la patente ES 2363284 A1 soluciona este problema al proporcionar una fuente que evita la necesidad de dichos tiempos de exposición prolongados. Este sistema, sin embargo, no es capaz de contrastar ciertas tipologías de defectos o defectos que aparezcan en determinadas localizaciones. Además y debido a las características constructivas de las lentes, los defectos potenciales se magnifican o son menos perceptibles, en función de la ubicación de la imperfección y la posición del observador. Puesto que el proceso de fabricación de estas piezas se realiza mediante inyección en varias fases, gases y partículas pueden quedar atrapadas en su interior. Un defecto muy común, y que siempre se origina cada vez que se para la instalación, debido a un cambio de molde, puesta a punto o fallo, es el atrapamiento de gases. Este tipo de defecto aparece durante varios ciclos de inyección, siendo inicialmente muy visible y conforme se van inyectando piezas se va haciendo menos perceptible hasta desaparecer totalmente. Utilizando el sistema de iluminación activo binario es posible identificar este defecto, pero sólo en las piezas producidas en los primeros ciclos de inyección. OBJETO DE LA INVENCIÓN La invención tiene por objeto paliar los problemas técnicos citados en el apartado anterior. Gracias al perfeccionamiento del sistema anterior es posible detectar defectos debidos al atrapamiento de gases a lo largo de todo en ciclo productivo. Para ello se incluye un dispositivo de iluminación direccional. Para la adquisición de imágenes será necesario posicionar un sensor con capacidad de obtener imágenes de la escena tridimensional enfrentado al primer dispositivo de iluminación binaria y cuyo eje central será también perpendicular a la dirección en la que se ilumina la pieza a inspeccionar mediante el nuevo sistema. Para posibilitar la detección de las imperfecciones surgidas del proceso de inyección se utilizan ambos sistemas binario y direccional. El primer dispositivo, el sistema de iluminación activo binario se compone esencialmente de: - Fuente de alimentación conmutada. - Panel de cristal líquido (LCD), el cual también puede incorporar tecnología de transistor de película delgada (TFT). - Tarjeta/s electrónica/s para el procesamiento y acondicionamiento de las señales de control del panel líquido. - Interfaz de datos digital (por ejemplo: DVI, HDMI...) o bien analógica (p.e. VGA). - Fuente de iluminación de alta intensidad y homogénea. - Elementos disipadores y aislantes de temperatura. - Panel de protección transparente y mate. - Una o varias placas de circuito impreso (PCBs) que comprenden LEDs con una distribución y disposición específica. Los LEDs deben ubicarse de tal forma que se asegure que el sistema entrega una iluminación homogénea y que no quedan áreas sin iluminar. El segundo dispositivo está formado por: - Placas de circuito impreso PCBs con LEDs posicionados en líneas - Difusores, pantallas de protección y carcasa. - Drivers de potencia y control. - Sistemas de posicionamiento basados en actuadores lineales y mecanismos de giro para la disposición de las placas de circuito impreso PCBs. Las imágenes captadas por el sensor de adquisición, cuando el sistema de iluminación activo binario proyecta un patrón de franjas móviles, son preprocesadas con el objeto de conseguir lo que se ha definido como imagen de aspecto. Esta imagen se caracteriza por disponer de un fondo homogéneo en el cual los defectos aparecen contrastados. Con esta tipología de imagen, la extracción de defectos es posible realizarla con algoritmos de bajo coste computacional compatibles con los reducidos tiempos de ciclo demandados en el sector de la automoción. Otras ventajas adicionales de este sistema son su alta iluminancia, que permite reducir los tiempos de adquisición de imagen, y la flexibilidad de configuración a nivel de software. Esta última característica hace que sea posible configurar en tamaño y orientación el patrón de iluminación estructurada para detectar defectos de distintas tipologías, orientaciones o tamaños. También es posible realizar el movimiento del patrón reduciendo, de esta forma, la presencia de elementos mecánicos, y configurarlo con un fondo blanco o negro según necesidades. Cuando se proyecta un fondo blanco actuará como un sistema de retroiluminación convencional y al proyectar un patrón negro evitará contaminaciones lumínicas cuando el dispositivo basado en LEDs direccionales actúe. En las imágenes captadas utilizando el dispositivo direccional basado en LEDs también será necesaria la aplicación de un preprocesado. En este caso se configurará en el driver de control una secuencia de encendido para captar una sucesión de imágenes. De la secuencia de imágenes se obtendrá una única imagen que no contendrá reflejos originados por el encendido de los LEDs y sí que mantendrá las posibles imperfecciones que pudiesen ser consideradas como defectos. BREVE DESCRIPCIÓN DE LAS FIGURAS Con objeto de ayudar a una mejor comprensión de las características de la invención de acuerdo con un ejemplo preferente de realización práctica de la misma, se acompaña la siguiente descripción de un juego de dibujos en donde con carácter ilustrativo se ha representado lo siguiente: La figura 1 es un esquema del dispositivo de la invención. La figura 2 es una vista en planta de la invención. La figura 3 muestra en detalle las carcasas y los actuadores de las carcasas. DESCRIPCIÓN DETALLADA DE LA INVENCIÓN En referencia a la figura 1, la invención comprende un monitor LCD 1 con, opcionalmente, una superficie negra mate 3 colocada próxima a su superficie. A cada lado de la zona donde se colocará la lente se sitúan dos carcasas que comprende de dos placas de circuito impreso (PCBs) respectivamente. Las placas incluyen una pluralidad de LEDs. Una de las placas se encuentra más próxima a la zona de la lente o zona de inspección. En cada placa, los LEDs se encuentran alineados. Las líneas de las dos placas son paralelas pero están a distintas alturas respecto a la posición de la lente. Las carcasas 2a, 2b cuentan con, preferentemente, unas pantallas de protección. Sendos actuadores lineales 4 y mecanismos de giro 5 permiten variar tanto la distancia relativa como el ángulo relativo entre la lente y el conjunto PCBs- carcasa. La incorporación de estos grados de libertad en el movimiento de las carcasas y por ende las PCBs permite que la invención pueda ser de utilidad para la inspección de diversos modelos de lentes. Es deseable que un grupo de LEDs, en la PCB que se encuentra más cerca de la zona de inspección se posicionen lo más cerca posible del corte láser de la pieza y formen una línea a una altura superior que la línea de LEDs en la placa más alejada de la zona de inspección. Por altura se entiende la distancia al plano donde se apoyan la lente y los mecanismos de giro y actuadores. Como elemento de adquisición de imágenes 6 se puede utilizar una cámara CCD o CMOS con la óptica y electrónica necesarias para poder realizar el procesamiento de imagen digital. En el caso del sistema de iluminación activo binario, la utilización de una malla de LCD sobre iluminada ofrece mayor flexibilidad que los sistemas mecánicos, no teniendo limitaciones a la hora de configurar y mover el patrón de franjas o incluso eliminarlo y colocar un fondo blanco. Para asegurar la detección de cualquier defecto en el campo de visión del sensor, el patrón de franjas debe escanear la totalidad de esta superficie. Para los tipos de defectos no transparentes que podría ser interesante detectar también (puntos negros y otras manchas), es interesante disponer de un sistema de retroiluminación sin franjas. Disponer de un patrón de franjas dinámico configurable en orientación y tamaño (sobre todo anchura). Tener la posibilidad de eliminar las franjas para, iluminando con luz blanca, detectar defectos opacos. Reducir enormemente los tiempos de sobreexposición al sobre- iluminar el objeto. La proporción existente entre la anchura de franjas de distinta luminancia permite detectar defectos de distinto tamaño. Esta proporción se ajustará para resaltar el defecto transparente de menor tamaño que estemos interesados en inspeccionar. El método empleado para conseguir la caracterización de defectos estéticos transparentes utilizando es el siguiente: En primer lugar, la iluminación binaria debe barrer el campo de visión de la cámara, por lo tanto se alternan la captura de imágenes con el movimiento de franjas. Todas las imágenes capturadas se componen de lo que se denomina imagen de aspecto. En esta imagen el fondo aparece en un nivel de gris intermedio y los defectos en un nivel de gris muy alto. Al estar tan contrastados, la segmentación (división de la imagen en regiones que tengan atributos o propiedades similares) no requiere de complejas técnicas de procesamiento y sólo se aplicará a las zonas de la imagen de aspecto que no tengan bordes, definidas como regiones de interés (ROIs). Una vez segmentados los defectos en la imagen debería procederse a la aceptación o rechazo del objeto transparente en función de las dimensiones del defecto y de la zona del cristal en la que éste haya sido detectado. Obtención de la imagen de aspecto Defínase la iluminación dinámica binaria como una forma de onda cuadrada periódica que debe ser desplazada N veces de forma que la anchura de la franja blanca Tb recorra la totalidad del periodo. Siendo A: Desfase entre franjas en dos imágenes consecutivas a: Ciclo de trabajo, el fondo homogéneo de la imagen de aspecto se obtendrá realizando el promedio (M) de las N formas de onda cuadradas desfasadas A. M(x) N-l **(Ver fórmula)** n=0 TI G RJ a T A=------ JGN l
Publications:
ES2626487 (25/07/2017) - A1 Solicitud de patente con informe sobre el estado de la técnica
ES2626487 (04/07/2018) - B1 Patente de invención

Événements:
Au 31/03/2017, Registro Instancia de Solicitud a été faite
Au 31/03/2017, IET1_Petición Realización IET a été faite
Au 31/03/2017, Admisión a Trámite a été faite
Au 31/03/2017, Aceptación Tramitación CAP a été faite
Au 31/03/2017, 1001P_Comunicación Admisión a Trámite a été faite
Au 06/06/2017, Continuación del Procedimiento a été faite
Au 12/06/2017, Publicación Continuación del Procedimiento e Inicio IET a été faite
Au 15/07/2017, Realizado IET a été faite
Au 18/07/2017, Informe Estado de la Tecnica a été faite
Au 18/07/2017, 1109P_Comunicación Traslado del IET a été faite
Au 25/07/2017, Publicación Solicitud con IET a été faite
Au 25/07/2017, Publicación Folleto Solicitud con IET (A1) a été faite
Au 20/10/2017, 3585X_Registro Solicitud Prórroga de Plazos a été faite
Au 20/10/2017, Concesión Prórroga de Plazos a été faite
Au 20/10/2017, 1585X_Notificación Concesión Prórroga de Plazos a été faite
Au 26/10/2017, Publicación Concesión Prórroga de Plazos (BOPI) a été faite
Au 10/01/2018, Reanudación Procedimiento General de Concesión a été faite
Au 16/01/2018, Publicación Reanudación Procedimiento General de Concesión a été faite
Au 06/04/2018, Publicación Traslado Observaciones del IET a été faite
Au 27/06/2018, Sin Modificación de Reivindicaciones a été faite
Au 27/06/2018, Concesión a été faite
Au 27/06/2018, 1203P_Notificación Concesión por Procedimiento General de Concesión a été faite
Au 27/06/2018, Entrega título a été faite
Au 04/07/2018, Publicación concesión Patente PGC a été faite
Au 04/07/2018, Publicación Folleto Concesión a été faite


Information sur l'enregistrement du brevet national par Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos avec le numéro P201730555

L'enregistrement du brevet national par Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos avec le numéro P201730555 a été demandé à la 31/03/2017. C'est un record dans Espagne, donc ce disque n'offre pas de protection dans le reste des pays. L'enregistrement Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos avec le numéro P201730555 a été demandé par UNIVERSIDAD DE JAÉN.

Autres inventions demandées par UNIVERSIDAD DE JAÉN

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