PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. - Informació sobre la patent

PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES.
  • País: Espanya
  • Data de sol·licitud: 10/10/2003
  • Número de sol·licitud:

    P200302355

  • Número publicació:

    ES2247890

  • Data de concessió: 20/10/2006
  • Estat: Concesión
  • Inventors:
    FERRAN LAGUARTA BERTRAN
    ROGER ARTIGAS PURSALS
    CRISTINA CADEVALL ARTIGUES
  • Dades del titular:
    UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA
  • Dades del representante:
    Juan Antonio Morgades Manonelles
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicació:
    G01B 11/00,B41J 2/16,
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicació:
    G01B 11/00,B41J 2/16
  • Data de venciment:

Patent nacional per "PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES."

Aquest registre ha estat sol·licitat per

UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA

a través del representant

JUAN ANTONIO MORGADES MANONELLES

Vist 11 cops
Aquesta informació és pública donat que ha estat obtinguda del BOPI (Butlletí Oficial de la Propietat Industrial). Segons l'article 13 de la llei de propietat intel·lectual, no són objecte de drets de propietat intel·lectual els actes i resolucions dels organismes públics. A més, segons l'article 2.b de la llei de protecció de dades, no es requereix el consentiment del titular de les dades per comunicar aquestes dades a un tercer quan es tracti de dades recollides de fonts accessibles al públic (el BOPI és un document públic).
Els productes i serveis protegits per aquest registre són:
G01B 11/00 - B41J 2/16

Publicacions:
ES2247890 (---) - B1 Patente de invención

Esdeveniments:
En data 10/10/2003 es va realitzar ADMISION A TRAMITE
En data 18/11/2003 es va realitzar APORTA AUTORIZA.REPRESENTACION
En data 18/11/2003 es va realitzar DECLARACION ADQUISI. DERECHOS
En data 01/01/2005 es va realitzar ACUERDO CONT PROC E INICIO IET 22.11.2004
En data 27/01/2005 es va realitzar PETICION REALIZACION IET
En data 15/02/2006 es va realitzar TRASLADO DEL IET REALIZADO EN: 27.01.2006
En data 01/03/2006 es va realitzar PUBLICACION IET (R.D.E.P) REALIZADO EL 27.01.2006
En data 01/03/2006 es va realitzar PUBL DE SOLICITUD ACORDADA EL 17.02.2006.
En data 03/04/2006 es va realitzar PETICION NO REALIZACION EXAMEN
En data 01/05/2006 es va realitzar PUBL REANUDAC PROC SIN EXAMEN 18.04.2006
En data 12/07/2006 es va realitzar TRASLADO OBSERV AL SOLICITANTE
En data 16/11/2006 es va realitzar PUBL. CONCESION DE F. RESOLUC. 20.10.2006
En data 09/04/2007 es va realitzar ENTREGADO TITULO


Informació sobre el registre de patent nacional per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355

El registre de patent nacional per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355 va ser sol·licitat el 10/10/2003. Es tracta d'un registre en Espanya pel que aquest registre no ofereix protecció en la resta dels països. El registre PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355 va ser sol·licitat per UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA mitjançant els serveis de l'agente Juan Antonio Morgades Manonelles. El registre [modality] per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355 està classificat com a G01B 11/00,B41J 2/16 segons la classificació internacional de patents.

Altres invencions sol·licitades per UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA

És possible conèixer totes les invencions sol·licitades per UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA entre les quals es troba el registre de patent nacional per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355. Si es desitgen conèixer més invencions sol·licitades per UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA clicar aquí.

Altres invencions sol·licitades en la classificació internacional de patents G01B 11/00,B41J 2/16.

És possible conèixer invencions similars al camp de la tècnica es refereix. El registre de patent nacional per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355 està classificat amb la classificació G01B 11/00,B41J 2/16 pel que si es desitja conèixer més registres amb la classificació G01B 11/00,B41J 2/16 clicar aquí.

Altres invencions sol·licitades a través del representant JUAN ANTONIO MORGADES MANONELLES

És possible conèixer totes les invencions sol·licitades a través de JUAN ANTONIO MORGADES MANONELLES entre les quals es troba el registre patent nacional per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES. amb el nombre P200302355. Si es desitgen conèixer més invencions sol·licitades a través de JUAN ANTONIO MORGADES MANONELLES clicar aquí.

Patents a Espanya

És possible conèixer totes les invencions publicades a Espanya entre les quals es troba el registre patent nacional per PROCEDIMIENTO Y EQUIPO DE METROLOGIA OPTICA PARA LA DETERMINACION DE LA TOPOGRAFIA TRIDIMENSIONAL DE UN ORIFICIO, EN PARTICULAR PARA LA MEDICION DE BOQUILLAS MICROMETRICAS TRONCOCONICAS Y SIMILARES.. El nostre portal www.patentes-y-marcas.com ofereix accés a les publicacions de patents en Espanya. Conèixer les patents registrades en un país és important per saber les possibilitats de fabricar, vendre o explotar una invenció en Espanya.