PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM - Informació sobre la patent
Publicacions de patents /
PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM /
PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM

Patent europea per "PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM"

Aquest registre ha estat sol·licitat per

OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.

Contacte
 
 
 




  • Estat: Solicitud publicada
  • País:
  • Patent Europea 
  • Data sol·licitud:
  • 06/04/2021 
  • Número de sol·licitud:
  • E21166908 

  • Número publicació:
  •  

  • Data de concessió:
  •  

  • Inventors:
  • Persona física 

  • Dades del titular:
  • Otsuka Electronics Co., Ltd.
  • Dades del representante:

  •  
  • Classificació internacional de patents:
  • G01N 15/02 
  • Clasificación Internacional de Patentes de la publicació:
  • G01N 15/02 
  • Data de venciment:
  •  
Els productes i serveis protegits per aquest registre són:
G01N 15/02

Publicacions:
EP3892981 (13/10/2021) - A1 Solicitud de patente europea con informe de búsqueda en la OEP
Esdeveniments:
En data 13/10/2021 es va realitzar Publicación OEP Solicitud de Patente Europea con Informe de Búsqueda (A1).

Font de la informació

Part de la informació aquí publicada és pública ja que ha estat obtinguda de l'Oficina de Propietat Industrial dels diferents països el 14/10/2021 i per tant pot ser que la informació no estigui actualitzada.

Part de la informació aquí mostrada ha estat calculada pel nostre sistema informàtic i pot no ser veraç.

Privacitat

Si considera que a l'informació aquí publicada afecta a la seva privacitat i desitja que eliminem la informació aquí publicada enviï un email a info@patentes-y-marcas.com o empleni el formulari que trobarà aquí.

Informació sobre el registre de patent europea per PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el nombre E21166908

El registre de patent europea per PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el nombre E21166908 va ser sol·licitat el 06/04/2021. Es tracta d'un registre en Patent Europea pel que aquest registre no ofereix protecció en la resta dels països. El registre PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el nombre E21166908 va ser sol·licitat per OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.. El registre [modality] per PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el nombre E21166908 està classificat com a G01N 15/02 segons la classificació internacional de patents.

Altres invencions sol·licitades per Otsuka Electronics Co., Ltd.

És possible conèixer totes les invencions sol·licitades per Otsuka Electronics Co., Ltd. entre les quals es troba el registre de patent europea per PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el nombre E21166908. Si es desitgen conèixer més invencions sol·licitades per Otsuka Electronics Co., Ltd. clicar aquí.

Altres invencions sol·licitades en la classificació internacional de patents G01N 15/02.

És possible conèixer invencions similars al camp de la tècnica es refereix. El registre de patent europea per PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el nombre E21166908 està classificat amb la classificació G01N 15/02 pel que si es desitja conèixer més registres amb la classificació G01N 15/02 clicar aquí.

Patents a Patent Europea

És possible conèixer totes les invencions publicades a Patent Europea entre les quals es troba el registre patent europea per PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM. El nostre portal www.patentes-y-marcas.com ofereix accés a les publicacions de patents en Patent Europea. Conèixer les patents registrades en un país és important per saber les possibilitats de fabricar, vendre o explotar una invenció en Patent Europea.

Patents registrades en la classe G

És possible conèixer totes les patents registrades en la classe G (FÍSICA) entre les quals es troba la patent PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el número E21166908. Conèixer les patents registrades en una classe és important per a saber les possibilitats de registrar una patent en aquesta mateixa classe.

Patents registrades en la classe G01

És possible conèixer totes les patents registrades en la classe G01 (METROLOGIA; ASSAJOS) entre les quals es troba la patent PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el número E21166908. Conèixer les patents registrades en una classe és important per a saber les possibilitats de registrar una patent en aquesta mateixa classe.

Patents registrades en la classe G01N

És possible conèixer totes les patents registrades en la classe G01N (RECERCA O ANÀLISI DE MATERIALS PER DETERMINACIÓ DE LES SEVES PROPIETATS QUÍMIQUES O FÍSIQUES) entre les quals es troba la patent PARTICLE SIZE MEASUREMENT METHOD, PARTICLE SIZE MEASUREMENT APPARATUS, AND PARTICLE SIZE MEASUREMENT PROGRAM amb el número E21166908. Conèixer les patents registrades en una classe és important per a saber les possibilitats de registrar una patent en aquesta mateixa classe.

Una pregunta i fet
La nostra comunitat t’ ajuda

Facts